<track id="foj63"><span id="foj63"></span></track>
      <tbody id="foj63"></tbody>
      <tbody id="foj63"></tbody>
      <track id="foj63"><span id="foj63"><em id="foj63"></em></span></track>
    1. <tbody id="foj63"></tbody>
      <bdo id="foj63"></bdo>

    2. 歡迎您來到滄州恒熙電子有限責任公司
      聯系人:13261081688
      信息分類

      熱門產品

      當前位置:返回首頁 > 行業動態 > 疑難問題 >

      晶振外殼目標分析及檢測流程介紹和尺寸特點

      2022-08-04 16:32:32

      <一>、晶振外殼目標分析及檢測流程介紹
      晶振外殼的形狀類似于飯盒,較長處約為11mm,較寬處約為4.5mm,共有6個面需要進行檢測。經過對小型沖壓件生產原理的分析結合廠家提供的大量次品樣品,可以認為它的缺陷主要分布于兩個位置:內底面和側邊。其中內底面的缺陷往往是由沖壓模具引起的凹陷以及劃傷,而側邊的缺陷全部為穿孔破損缺陷,位置也集中分布于弧頂面或者弧頂面與側面的連接處。由于缺陷位置差異較大,因此需要針對其形狀特點分別設計不同的光源和檢測算法。
      對于分布于內底面的凹陷和劃傷,利用環形熒光燈作為光源,使晶振外殼和鏡頭都處于光源圓心的垂直軸線處,并采用高角度漫照射,可以保護內底面深受均勻的光照,較大限度地減弱了光照不均勻所產生的明暗變化,也避免了側邊在底面上投射下陰影而造成的檢測誤差。
      弧頂面是一個接近半圓的弧形,對于這類大曲率的金屬物體表面檢測,較理想的方案是使用同軸照明。
      但是目前市場上商品化的同軸照明系統都很昂貴,選用此類光源固然可以優良降低檢測難度,但是隨之帶來了系統成本的大幅上揚,不符合此系統低成本的研制初衷。而自制的同軸照明系統,成像效果與商業產品相去甚遠。經過對多種類型光源的比對實驗,較終確定采用低角度照明方式。此種照明方式能較大程度地凸現目標區域,而且對組件無特別要求,制作簡單。
      <二>、晶振外殼的尺寸特點
      晶體振蕩器被廣泛用于各種模擬和數字電路中作為基準時鐘源,其質量的好壞直接影響到電路工作狀況,而晶振外殼(也稱晶振帽)沖壓品質是影響晶振性能的主要因素之一。晶振外殼采用沖床連續沖壓成型,經大量觀察和分析發現,主要缺陷有內底面與頂面的凹坑、內底面與頂面的劃痕,側面裂口和側面撓曲。
      之前的研究者針對前3種缺陷,應用計算機視覺檢測技術設備了晶振外殼缺陷檢測系統,通過圖像的分析和處理判斷是否有缺陷,并且設計了晶振外殼缺陷檢測系統的硬件平臺。幾基本實現晶振外殼缺陷的在線自動檢測,而且具有很好的檢測準確性。但是對于撓曲缺陷,由于整個外殼尺寸比較??;小撓曲肉眼很難發現和判斷。而且這種撓曲缺陷與面缺陷有很大區別,側面和頂面圖像上不能反映撓曲缺陷的存在,因而以前的方法對該撓曲缺陷檢測是無效的。本文在分析原有的檢測方法的基礎上,研究晶振外殼的側面撓曲缺陷,提出檢測側面撓曲缺陷的方法。

      国产a片免费99精品欧美大片|未满十八岁不能看的黄色视频|国产精品久久国产三级国|
      <track id="foj63"><span id="foj63"></span></track>
        <tbody id="foj63"></tbody>
        <tbody id="foj63"></tbody>
        <track id="foj63"><span id="foj63"><em id="foj63"></em></span></track>
      1. <tbody id="foj63"></tbody>
        <bdo id="foj63"></bdo>